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更多>>台湾SIWARD晶振有着领先全球的光蚀刻制程能力
来源:http://konuaer.com 作者:kanghuaer 2023年09月26
随着各种高速串流资料讯号广泛使用,需要更高频的时脉讯号源,但传统机械(研磨)工法,已无法满足更高的频率需求,台湾希华晶振遂将半导体晶圆制程应用在石英晶片产业,使高频化、小型化、高精度振荡器产品得以实现,下面给大家详细介绍一下光蚀刻制程的工法以及和传统晶体相比光刻蚀晶片的优势。
光蚀刻制程工法如下
1.应用光蚀刻工法,可轻易在wafer状态(晶圆级)下,一批次将数万颗晶体振荡器完成厚度加工达到所需要的频率。
光蚀刻制程工法如下
1.应用光蚀刻工法,可轻易在wafer状态(晶圆级)下,一批次将数万颗晶体振荡器完成厚度加工达到所需要的频率。
2.同样应用光蚀刻工法,在wafer状态下,一批次将数万颗晶体振荡器完成晶片外型,且用光蚀刻法轻易将产品小型化,尺寸一致性更高,精度更好。
3.接着用同样工法完成发振区电极回路。
为什么要光刻?
-小型化(目前可至0806)采用半导体制程,满足客户小型化产品需求
-高频化(max500MHz)3D设计凹槽结构,强化晶片刚性满足客户高频化需求
-高精度(Accuracy 2um)批次生产,高对位精度产品,满足客户对电性及品质稳定度的需求
光蚀刻制程克服高频晶片技术障碍
由于石英晶片机械加工极限厚度约30um (55MHz),所以更高频率晶片(一般指基本波60MHz以上),需采用光蚀刻制程克服技术障碍;石英晶片厚度越薄,晶体单元的频率越高,传统晶片采用机械加工厚度有局限性,最薄约30um(55MHz左右振荡频率);使用光蚀刻制程,可3D结构设计阶梯结构及凹槽结构,强化晶片刚性,让振荡区厚度不受局限,使产品更易小型化、高频化、特性更好。 由于更高频率晶片厚度偏太薄,晶片刚性不够,使用光蚀刻制程,结构可阶梯结构3D化设计,让振荡区厚度不受局限,一般可达到3~30um的技术需求,如图示:传统晶片 & 光蚀刻晶片比较
1.产品品质比较
采用光蚀刻制程在稳定度及精密度均优于传统制程晶片,品质一致性高
传统晶片制程:
1. 此作法先将石英晶柱,经2次线切割形成单体小晶片
2. 单体晶片再经研磨、斜面加工、组装镀膜,变异度高
3. 不易进行薄型化、小型化精密加工
2.产品电性比较
采用光蚀刻制程在电性表现上优于传统制程晶片,因为光蚀刻结构的Mesa AT晶片,具有以下特点:
1. 可精确掌控晶片尺寸
2. 3D结构设计
使得每个石英晶片的特性都可达到非常稳定的一致性,所以频率特性较传统晶片稳定,如图
3.制程综合比较
-
尺寸精度1~3μm30~50μm
-
石英晶片加工厚度极限3um30um
-
石英晶片结构设计3D2D
-
石英晶片高频化容易(振荡频率可达到500MHz)不容易(振荡频率极限60MHz)
-
石英晶片小型化容易(目前可达到size:0806)不容易(极限size:1612)
-
产品稳定度佳较差
SIWARD原厂编码 | 生产商品牌 | 型号 | 频率 | 频率偏差度 | 负载电荷 | 工作温度 |
XTL721-Q23-048 | Siward晶振 | XTL72 | 32.768 kHz | ±20ppm | 6pF | -40°C ~ 85°C |
XTL721-S349-005 | Siward晶振 | XTL72 | 32.768 kHz | ±20ppm | 7pF | -40°C ~ 85°C |
XTL721-S999-301 | Siward晶振 | XTL72 | 32.768 kHz | ±20ppm | 9pF | -40°C ~ 85°C |
XTL721-S999-429 | Siward晶振 | XTL72 | 32.768 kHz | ±20ppm | 6pF | -40°C ~ 85°C |
XTL741-S999-319 | Siward晶振 | XTL74 | 32.768 kHz | ±20ppm | 9pF | -40°C ~ 85°C |
XTL741-U11-402 | Siward晶振 | XTL74 | 32.768 kHz | ±20ppm | 7pF | -40°C ~ 85°C |
XTL741-S999-298 | Siward晶振 | XTL74 | 32.768 kHz | ±20ppm | 12.5pF | -40°C ~ 85°C |
XTL741-S999-379 | Siward晶振 | XTL74 | 32.768 kHz | ±20ppm | 7pF | -40°C ~ 85°C |
XTL741-S999-327 | Siward晶振 | XTL74 | 32.768 kHz | ±20ppm | 4pF | -40°C ~ 85°C |
XTL721-S999-286 | Siward晶振 | XTL72 | 32.768 kHz | ±20ppm | 12.5pF | -40°C ~ 85°C |
XTL751-S999-544 | Siward晶振 | XTL75 | 32.768 kHz | ±20ppm | 12.5pF | -40°C ~ 85°C |
XTL751-S999-548 | Siward晶振 | XTL75 | 32.768 kHz | ±20ppm | 9pF | -40°C ~ 85°C |
XTL751-S999-420 | Siward晶振 | XTL75 | 32.768 kHz | ±20ppm | 7pF | -40°C ~ 85°C |
CGX70502-13.800-G108 | Siward晶振 | CGX-70502 | 13.8 MHz | ±50ppm | 16pF | -10°C ~ 60°C |
CGX70502-14.050-G109 | Siward晶振 | CGX-70502 | 14.05 MHz | ±50ppm | 16pF | -10°C ~ 60°C |
CGX70502-14.800-H134 | Siward晶振 | CGX-70502 | 14.8 MHz | ±50ppm | 16pF | -10°C ~ 60°C |
CGX70502-15.425-H135 | Siward晶振 | CGX-70502 | 15.425 MHz | ±50ppm | 16pF | -10°C ~ 60°C |
CGX70502-15.925-H136 | Siward晶振 | CGX-70502 | 15.925 MHz | ±50ppm | 16pF | -10°C ~ 60°C |
CGX70502-16.300-H137 | Siward晶振 | CGX-70502 | 16.3 MHz | ±50ppm | 16pF | -10°C ~ 60°C |
XTL581100-J96-011 | Siward晶振 | SX-2520 | 16 MHz | ±10ppm | 8pF | -20 ℃~70 ℃ |
XTL571200-K114-002 | Siward晶振 | SX-3225 | 12 MHz | ±10ppm | 10pF | -40°C ~ 85°C |
XTL571150-F98-063 | Siward晶振 | SX-3225 | 24 MHz | ±15ppm | 18pF | -20 ℃~70 ℃ |
XTL571100-H201-493 | Siward晶振 | SX-3225 | 25 MHz | ±10ppm | 12pF | -20 ℃~70 ℃ |
XTL541200-C282-030 | Siward晶振 | SX-5032 | 8 MHz | ±20ppm | 20pF | -40°C ~ 85°C |
XTL5A1100-M118-056 | Siward晶振 | SXT-2520 | 26 MHz | ±10ppm | 7pF | -30°C ~ 85°C |
XTL5A1100-M118-132 | Siward晶振 | SXT-2520 | 26 MHz | ±10ppm | 7pF | -30°C ~ 105°C |
XTL5A1100-S362-009 | Siward晶振 | SXT-2520 | 26 MHz | ±10ppm | 9pF | -30°C ~ 85°C |
XTL55S16-S208-018TR4 | Siward晶振 | SX-4025 | 16 MHz | ±10ppm | 9pF | -20 ℃~75 ℃ |
XTL721-G78-1609 | Siward晶振 | CSF-3215 | 32.768 kHz | ±20ppm | 12.5pF | -40°C ~ 85°C |
XTL741-R53-039 | Siward晶振 | SF-2012 | 32 kHz | ±20ppm | 12.5pF | -40°C ~ 85°C |
XTL741-S999-321 | Siward晶振 | SF-2012 | 32.768 kHz | ±20ppm | 12.5pF | -40°C ~ 85°C |
XTL501100-F98-044 | Siward晶振 | SX-2016 | 24 MHz | ±10ppm | 8pF | 20 ℃~75 ℃ |
XTL501100-S413-007 | Siward晶振 | SX-2016 | 32 MHz | ±10ppm | 9pF | -20 ℃~75 ℃ |
XTL541200-C282-030 | Siward晶振 | SX-5032 | 8 MHz | ±20ppm | 20pF | -40°C ~ 85°C |
XTL571100-C249-064 | Siward晶振 | SX-3225 | 37.4 MHz | ±10ppm | 10pF | -10°C ~ 70°C |
XTL571100-F98-020 | Siward晶振 | SX-3225 | 12 MHz | ±10ppm | 10pF | -20 ℃~70 ℃ |
XTL571100-H201-493 | Siward晶振 | SX-3225 | 25 MHz | ±10ppm | 12pF | -20 ℃~70 ℃ |
XTL571100-M118-048 | Siward晶振 | SX-3225 | 26 MHz | ±10ppm | 7.3pF | -20 ℃~75 ℃ |
XTL571100-N98-008 | Siward晶振 | SX-3225 | 25 MHz | ±10ppm | 20pF | -20 ℃~75 ℃ |
XTL571150-F98-063 | Siward晶振 | SX-3225 | 24 MHz | ±15ppm | 18pF | -20 ℃~75 ℃ |
XTL571150-G47-219 | Siward晶振 | SX-3225 | 25 MHz | ±10ppm | 18pF | -40°C ~ 85°C |
XTL571150-M118-070 | Siward晶振 | SX-3225 | 40 MHz | ±7ppm | 13pF | -40°C ~ 85°C |
XTL571200-H201-177 | Siward晶振 | SX-3225 | 32 MHz | ±10ppm | 9pF | -40°C ~ 85°C |
XTL571200-V42-001 | Siward晶振 | SX-3225 | 12 MHz | ±20ppm | 20pF | -10°C ~ 70°C |
XTL571300-U11-279 | Siward晶振 | SX-3225 | 12 MHz | ±30ppm | 12pF | -40°C ~ 85°C |
XTL581100-J96-011 | Siward晶振 | SX-2520 | 16 MHz | ±10ppm | 8pF | -20 ℃~70 ℃ |
XTL581100-M171-008 | Siward晶振 | SX-2520 | 38.4 MHz | ±10ppm | 10pF | -30°C ~ 85°C |
XTL581200-G47-319 | Siward晶振 | SX-2520 | 12 MHz | ±10ppm | 10pF | -40°C ~ 85°C |
XTL581150-G47-223 | Siward晶振 | SX-2520 | 40 MHz | ±10ppm | 12pF | -30°C ~ 85°C |
XTL501300-A292-004 | Siward晶振 | SX-2016 | 16 MHz | ±20ppm | 9pF | -40°C ~ 85°C |
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